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测试过程中的严重漏洞

院士
2006-09-17 18:14:16     打赏
测试过程中的严重漏洞



关键词: 测试     过程     中的     严重     漏洞    

院士
2006-12-22 22:43:00     打赏
2楼
问     我是今年参赛的学生,做的是A题,指标全部达到。
我现在就是想要说一下对测试专家的看法。
    进入测试现场后,专家让我去隔壁一个房间拿自己的作品箱子,进去一看,发现所有的作品箱子都已经拆封了,报告已经被取走。我抱着自己的箱子,经过一条约十米长的走廊。箱子拿到测试房间后,在专家的眼前打开箱子,拿出作品,专家会问你有没有替换的CPU或CPLD,如果有,并且是交卷的时候封在箱子里的,就表示可以使用。
    注意了,竞赛明确规定,测试时不能带入CPU和可编程逻辑器件,而这样的情况正好给有些人空子可钻!在取箱子的过程中,完全有时间将放在自己裤兜里的CPU或是CPLD等芯片放入箱中。我不知道是否有人这样做了,但是这确实是一个非常好利用的漏洞,有的同学正好可以替换CPU,达到完善程序的目的。
    听说以前都是学生在测试的时候亲自打开封条的,我不知道今年为什么会提前开箱。听说以前有师兄测试时打开箱子,发现CPU的P0口被剪断了几根……(估计是被人嫉妒)而现在,箱子就这么敞开着放在那里,还不知道会发生什么问题呢!
    所以,这个漏洞可以有两个方面的效果,一是自己让自己的作品更加完善,二是别人让自己的作品走向毁灭!我不知道组委会是怎么考虑的。但是这样的一个事件却告诉我们,电子设计并没有想象中的那么严格,也并没有想象中的那么干净清白。电子设计过程中的水分,在这个小事情中也可见一斑。 1: 没有什么通过这种方法来完善程序的风险太大,没有地方可以试验,万一一个地方不小心该错了,换上岂不是遭了. 2: 我们去时,箱子也已经被拆了,我开始还很担心呢,幸好没啥事

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