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本仪器是利用运算放大器输入的比较特性设计制作的，利用此仪器能够快速、准确地判测运放的好坏，十分有用。笔者在指导学生实训过程中，用此仪器去挑选购买运算放大器(包括部分拆机品)，效果非常好，现介绍如下。
电路如附图。将待测运算放大器接成比较器结构，当V+>V－时，Vout为正电源状态，接近VCC，二极管VDl发光。当V+<V－时，为负电源状态，接近Vee，二极管VD2发光。为此，用R1、R2设置V+＝1／2(Vcc－Vee)=0V(对E点电位)。R3、R4、Rp组成V一电压偏置电路，向下调节RP，可使V一<V+．VDl发光；向上调节RP，可使V一>V+，VD2发光。电阻R5、R6、C1、C2构成电源分裂电路，将9V电源分成2x45V，使Ve=0V即Vdd=+4.5V，Vee＝－4 5V，满足运算放大器双电源应用的要求。

电路中，R7～R14为输入端串联电阻，当测试多运算放大器时，若其中有一运算放大器输入端损坏，不会影响其他运算放大器的测试。

设计中使用了二个8脚、一个14脚DIP插座，以方便对通用型单、双、四运放的测试。注意：插座1测量单运放，⑦脚接电源正，④脚接电源负，②脚输入负，③脚输入正，⑥脚输出。插座2测量双运放，⑧脚为电源正，④脚为电源负，②、⑥脚输入负，③、⑤脚输入正，①、⑦脚为输出。插座3测量四运放，④脚为电源正，○11脚为电源负，②、⑥、⑨、○13脚输入负，③、⑤、⑩、○12脚输入正，①、⑦、⑧、○14脚为输出。

R5、R6应尽可能相等，以确保为虚地，由于是电源裂变电阻又是发光二极管的限流电阻，可在200Ω～510Ω间选择。阻值小，发光强、耗电大；阻值大，发光弱、不易观察。R1、R2、R3、R4应尽可能相等，以保证偏置为"地"，阻值在10KΩ~100KΩ中间选择。

RP为同数量级的线性电位器，在中间做一个刻度线，以便调节。VDl～VD8选择异色发光二极管，以便于区分。测量前，关掉电源，插入待测集成电路，注意管脚位置不要插反，然后接通电源，调节RP，并根据发光管状态判断运放的好坏。测试完后断电，取下集成电路。注意：不能带电插拔集成电路，以免损坏芯片。

使用时，将被测单运放插入插座1，接通电源，向下调节RP，VDl发光：向上调节RP，VD2发光；当RP处在中间位置时，输出为零，VDl、VD2发微光。在进行双运放测试时，把被测运放插入插座2，向下调节RP，VDl、VD3发光；向上调节RP，VD2、VD4发光。在对四运放进行测试时，将被测运放插入插座3，向下调节RP．VDl、VD3、VD5、VD7发光：向上调节RP，VD2、VD4、VD6、VD8发光。测试时不必寻找中点，只要观察发光管的变化状态，就能判断比较特性的优劣。对于多运放的测试，应当慢慢调节RP，以便通过观察发光二极管的亮度及亮灭时间来判断其多个运放的一致特性。如果在测试中调节RP时只有一种状态，而无变化，说明该运放已失去比较特性，不能使用。

我们用此仪器对单运放LM741、CA3140、CA3130、NE5534，双运放LM358、MCl458、TL062、TL082，四运放LM324、TL084、LM747，进行了测试，效果十分理想，特别是对拆机元件进行筛选，非常有用。