用户会出于各种原因而需要测量器件的阻抗。一个典型的情况是工程师们需要对用在其所设计的电路中的器件的阻抗特性进行测量,因为通常情况下这些器件的供应商只给出了器件阻抗值的额定数据。
在某种程度上,在决定产品的最终设计性能,甚至决定制成品的生产时都会与产品所用器件的阻抗值有关,最终产品的性能和质量会受到器件的测量精度以及对器件的测量是否够全面的影响。
这份资料提供一些有用的信息来帮助工程师们熟悉自动平衡电桥、IV和 RF-IV测试技术的使用。对于使用反射法测量阻抗的技术人员,可以从安捷伦编号为 1291-1的应用指南“提高网络分析仪使用能力的8条提示”(文献编号为 5965-8166CHCN) 中找到类似的信息。5968-1947CHCN.pdf