这些小活动你都参加了吗?快来围观一下吧!>>
电子产品世界 » 论坛首页 » 综合技术 » 测试测量 » 【选型指南】4200-SCS型半导体特性分析系统

共1条 1/1 1 跳转至

【选型指南】4200-SCS型半导体特性分析系统

高工
2012-05-12 11:31:44     打赏

容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。

可选仪器:

* 4225-PMU超快I-V模块

* 4220-PGU脉冲发生器单元(仅电压源)

* 4225-RPM远程放大器/开关

* 4200-SMU中等功率源测量单元

* 用于4200-SCS的4210-SMU高功率源测量单元

* 用于4200-SMU和4210-SMU的4200-PA远程前置放大器选件

* 4210-CVU 1kHz - 10MHz电容电压测量单元

* 4200-SCP2双通道示波器卡

* 4200-SCP2HR 200MS双通道示波器卡

 

超快I-V应用套件:

* 4225-PMU超快I-V模块


功能特性:
  • * 直观的、点击式Windows操作环境
  • * 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至 0.1fA
  • * 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
  • * 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
  • * 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
  • * 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
  • * 内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
  • * 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
  • * 硬件由 Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
  • * 包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
  • * 支持先进的半导体模型参数提取,包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso



  • 关键词: 选型     指南     4200-SCS     半导体     特性     分析         

    共1条 1/1 1 跳转至

    回复

    匿名不能发帖!请先 [ 登陆 注册 ]