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典型的测试设备结构

当我们在选择生产测试设备时，考虑前面提到的三大类系统是大有裨益的：

u 单机/单通道I-V解决方案

u 并行I-V测试系统

u 可随意组合的多通道系统

单机/单通道I-V解决方案――常适合于对成本不是特别敏感的应用。在此类应用中，可采用较低速的源－测量架构。多个源－测量单元（SMU）可与开关矩阵一同使用，构成多通道系统，但是这种配置限制了机架密度及系统吞吐量不能很高。在较小规模的系统中，一般由PC机控制，通过GPIB或外部触发来控制SMU。但是，其中有一些系统具有内部的程序存储器，可允许在没有PC机控制情况下储存和执行测试序列，减少了速度相对慢的GPIB接口通信量。通常，对SMU没有程序存储功能或有程序存储功能但容量有限制时，用户开发由PC控制执行的测试应用程序（采用SCPI命令）是十分必要的。