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T/R组件是相控阵雷达的关键部分，它的性能会对整个雷达系统的性能产生直接和关键性的影响，如雷达发射信号的波束成形、测向精度及系统稳定性等。T/R组件是包含了微波开关、功率放大器、低噪声放大器、移相器、电源、馈电网络等部分的复杂电路系统。从技术层面上说，它覆盖微波电路、数字控制电路诸多方面。高性能 T/R组件对电路器件的性能参数、机械结构、电磁兼容性能、稳定性都有很高要求。当前，对 T/R组件的测试也从原先的手工测试，步入到了半自动、自动测试。

Acery（新锐科技）基于是德科技的网络分析仪、信号源、频谱仪、功率计等仪器研制了一套TR组件自动测试系统，完成了脉冲TR组件的测试，将测试效率提高了几倍。TR组件自动测试系统的特点：

克服了T/R组件测试中的技术难题

脉冲网络仪用于T/R组件测试时，需要解决诸多问题: 比如开关视频馈通干扰、外置处理电路带来的功率补偿、功率修正、互连稳定等，并且在脉冲状态下进行校准会引入新的测试误差。

是德 PNA-X 采用最新 X 参数测量技术，可以完成脉冲状态下 X 参数校准，从而使参数的测量稳定性和精度都有保证。采用选件008，还可以实现窄脉冲下的 X 参数测试。除了 X 参数，其它参数的测量还需要对开关矩阵进行控制、对系统的损耗进行补偿。

 实现了收发组态的控制, 以及与射频测试的同步

LS3700 T/R组件自动测试系统提供64路的数字IO，用于控制测试期间的相位和增益，同时也提高多达4路的脉冲同步(支持内部触发及外部触发)信号。控制信号可以任意连接，输出采用78Pin分配接口或数字IO连接盒。

 测试速度快、精度高

由于T/R组件电路复杂，相位以及增益状态多(采用5位移相器和5位衰减器时总有 1024 种状态)。传统测试需要使用手动拨开关来转换不同的状态，并根据仪器的测试结果来记录数据；在测量多个模块后，根据记录结果做幅相一致性比较。整个过程耗时巨大并且容易出错。