OpenVINOTM,给你看得见的未来!>>
电子产品世界 » 论坛首页 » 嵌入式开发 » FPGA » 采用复杂可编程逻辑器件实现多次重触发存储测试系统的应用方案

共1条 1/1 1 跳转至

采用复杂可编程逻辑器件实现多次重触发存储测试系统的应用方案

工程师
2020-08-23 22:15:51    评分

1 引言

多次重触发技术应用于多种场合,如一个30齿的齿轮,设齿轮啮台系数为1.2,若测量其中1齿多次啮合时的应力,则1齿的啮合时间只占齿轮转l圈时间的 1.2/30,其余28.8/30的时间为空闲态,而空闲态记录无意义。为此开发多次重触发技术,以齿应力作为内触发信号,只记录每次触发后的有用信号,并具有负延迟,而不记录空闲状态.直到占满记录装置存储空间,这样可有效利用存储空间,记录更多的有用信号。

2 多次重触发存储测试系统总体设计

2.1 多次重触发存储测试系统工作原理

图1为多次重触发存储测试系统原理框图,其工作原理:被测信号经传感器变为电信号后,输入至模拟调理电路,再经放大滤波后输入至A/D转换器,将模拟信号转换为数字信号,然后经过FIFO传输给存储器,计算机通过通信接口读取数据。其中,该存储测试系统的A/D转换器的转换和读时钟、FIFO及存储器的读写时钟、推地址时钟均由CPLD控制产生。

采用复杂可编程逻辑器件实现多次重触发存储测试系统的应用方案

2.2 负延迟的实现

动态信息存储要求真实有效地记录有用信号,根据被测信号特点,需记录下触发前信号在极短时间内的数据,这就要使用负延迟技术。负延迟也称为提前传输,即将触发信号的触发采集时刻提前一段时间作为传输数据的起始点。该系统设计采用FIFO存储器实现负延负延迟。触发信号未到来时,A/D转换器输出的数据不断写入FIFO存储器中,A/D转换器转换的数据不断刷新FIFO存储器的内容。一旦触发信号到来,数据则开始从FIFO写入存储器。

2.3 主要器件选型

该系统设计选用AD7492型A/D转换器。该器件为12位高速、低功耗、逐次逼近式A/D转换器。在5 V电压,速率为1 MS/s时,其平均电流仅1.72 mA,功耗为8.6 mW;在5 V电压和500 kS/s数据传输速率下,消耗电流1.24 mA,因此,该器件能够满足系统低功耗要求。由于该系统设计的存储器总体容量为512 KB,因此选用l片容量为512 KB的N08T163型存储器。并通过静态存储器时序配合实现自制的FIFO存储器,功耗约为同类FIFO存储器的1/10。系统设计的负延迟记录l KB,选用128 KB容量的N02L163WC2A型存储器。针对存储测试系统功耗低,体积小,且控制逻辑较复杂的因素,MAX7000B系列的 EPM7128BTCl44-4型CPLD作为控制器。该器件是高性能,低功耗的CMOS型CPLD,2500个可用逻辑门电路,引脚到引脚的传输延时为 4.0 ns,系统工作频率高达243.9 MHz。

3 CPLD控制电路的设计

基于CPLD的多次重触发存储测试系统主要由A/D转换器、存储器、FIFO和控制器CPLD等组成,其中CPLD控制电路由时钟、多次重触发、FIFO 地址发生、存储器地址发生、存储器计满,电源管理和计算机通信等模块组成,如图2所示。

3.1 控制电路各模块功能

(1)电源管理模块 该模块主要控制系统功耗。当系统处于休眠状态时,只有Vcc对CPLD供电;当系统进入正常工作状态时,Vcc,VDD和VEE同时供电,晶振工作,当采样结束,系统关闭VEE,模拟部分进入休眠状态,晶振停止工作。该模块能够满足系统低功耗要求。

(2)时钟模块 晶振提供的4 MHz信号经4个二分频器,分别得到2 MHz、1 MHz、500 kHz和250 kHz的时钟信号,由这些信号组合得到A/D转换器的采样信号convst、FIFO的写信号、A/D转换器的读信号ffwr_adread以及FIFO 的推地址信号ff_dz,均为250 kHz。

(3)多次重触发模块 当外界多次重触发信号m_tri到来后。经D触发器产生的open信号变为高电平,计数器开始计数时钟信号ff_dz,每计8 KB后停止计数,并产生清零信号clr对open信号清零,等待下次触发信号。由时钟信号ff_dz和open信号控制产生的时钟信号clkl作为写存储器时的推地址信号和写信号,open信号取反后接至存储器使能端。

(4)FIFO地址发生模块CPLD对FIFO的地址控制由时钟模块ff_dz信号产生,在时钟信号ff_dz的下降沿开始推FIFO地址。

(5)存储器地址发生模块 多次重触发模块产生clkl信号作为存储器的推地址信号m_dz推地址,将转换数据写入存储器,写满8 KB后停止写操作,等待下次触发信号。存储器存满512。KB后停止推地址和写操作,等待计算机读数。读数时,计算机每向CPLD发送1个读数脉冲,地址信号向前推进1位,CPLD就从存储器中对应的地址单元读取1个数据。

(6)存储器计满模块 当多次重触发信号m_tri到来后,open信号变为高电平,计满8 KB后变为低电平,等待下次触发信号。因此用计数器计数open信号下降沿,计满64个后存储器满信号tc变为高电平。

3.2 CPLD总体控制电路仿真及分析

图3为CPLD总体控制电路仿真图。图3中触发信号m_tri产生3次,由nopen信号看出存储器选通3次,由存储器地址信号m_addr的变化可看出存储器记录每个触发信号8 KB,并不断更新FIFO的数据。第1个触发信号m_tri到来后,nopen信号变为低电平即选通存储器。这时产生存储器的推地址信号和写信号m_dz 信号,并且在下降沿时将推地址给存储器,存储器在低电平期间进行写操作。触发信号m_tri到来后计满8 KB,nopen信号产生高电平不选通存储器,且存储器的推地址信号和写信号m_dz变为高电平。

4 实验验证

通过实验验证该测试系统功能。实验中给测试系统加载8次触发信号,连续采集8次。由于该系统设计最多可以采样64次,如果重触发信号次数未达到64次,需手动给测试仪一个强制读数信号使得仪器采样结束。多次重触发信号8次有效后,手动强制读数信号使得仪器结束采样,通过上位机软件判断采集到的波形幅值和手动调节的幅值是否对应。若对应,表明系统采样正常。

实验步骤:测试仪接通电源,此时测试仪采样状态指示灯的红灯亮,和计算机接上编程读数线,打开编程界面,设置多次重触发的采样频率,其他选项均采用默认设置,编程完成后,拔掉编程读数线,测试仪上电(ON=0),红灯开始闪烁,将电荷校准仪的输出接到测试仪面板上的通道端,设置电荷校准仪的输出波形为正弦波,电荷量为2 000 PC,输出信号,给系统一个触发信号(M_TRI=1),红灯闪烁一段时间后停止闪烁,表明系统第一次采样完成,这时调节电荷校准仪的输出电荷量为4 000 PC。再给系统一个触发信号,重复前面过程,每次采样完成后改变电荷量,直到绿灯亮,和计算机连上编程读数线,通过上位机软件读取数据,待数据读取完毕,测试仪掉电(OFF=0),断开测试仪电源。图4为多次重触发波形。对图4中的数据进行转换和处理得到实测的电荷量值如表1所示,从表1看出,采集到的波形幅值与调节的顺序一致,系统设计符合要求。

5 结论

本文设计的基于CPLD的多次重触发存储测试系统性能较稳定,测量精度较高,能在高冲击等恶劣环境下正常工作,并且满足系统的低功耗、微型化要求,实现不失真采样存储信号。此系统能够实时记录多次重触发信号,每次信号的记录均有负延迟,读取数据时,无需程序调整,即可准确复现记录波形,因此存储测试技术在多个瞬态信号的测量中具有广阔前景。




共1条 1/1 1 跳转至

回复

匿名不能发帖!请先 [ 登陆 注册 ]