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分析高数值孔径物镜的聚焦特性

工程师
2022-11-21 17:38:56     打赏
摘要 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 


 建模任务 概述 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。•接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
 光线追迹仿真 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。•单击go!•获得了3D光线追迹结果。
 光线追迹仿真 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。•单击go!•结果得到点图(二维光线追迹结果)。
 场追迹仿真 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。•单击go! 
 场追迹仿真(相机探测器) •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
 场追迹仿真(电磁场探测器)•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 
 场追迹仿真(电磁场探测器)
 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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 更多阅读

-Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer
-Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination




高工
2022-11-21 20:11:03     打赏
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高工
2022-11-21 20:14:27     打赏
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2022-11-22 01:33:27     打赏
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2022-11-22 04:57:01     打赏
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2022-11-22 06:27:53     打赏
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2022-11-22 09:20:54     打赏
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2022-11-22 15:25:37     打赏
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2022-11-22 20:21:12     打赏
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2022-11-22 20:24:48     打赏
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