在半导体测试测量行业里，由于仪器本身、测试传输电缆等问题导致误差的存在，所以我们在测试测量时为了真实地表征待测元器件的参数和性能，往往需要进行一些修正，其中会涉及到deskew和calibration的概念，这里谈谈我个人的理解，呵呵，希望大家多讨论。
     deskew，解决的往往是由于通道、传输电缆等导致的信号传输时间偏差的问题，补偿某个通道，从而消除时滞，常用于使用示波器的测试系统中；而calibration，解决的则是基准的校正问题，在测试后的结果中排除掉这个基准才是真实的结论，常用于使用VNA（矢量网络分析仪）等的测试系统中。