我有一个使用 FX3 (CYUSB3014) 和 FX3 SDK 1.3.5 的简单项目。
我将 Segger J- 6EDL_SPI_LINK连接到 JTAG 引脚。 另外，还有一个使用 Segger J- 6EDL_SPI_LINK GDB 服务器的调试配置。
我看到控制台中打印了多个错误，如下所示：
827^error,msg="Dwarf Error：无法找到从 .... 的 DIE 引用的位于 0x0 的 DIE
调试器停止在主界面。 之后，如果我继续执行（运行），调试器就不再响应--不会在任何断点处停止，也不允许暂停。 我只能终止调试会话。
如果我更改项目设置，并将其切换到 FX3 SDK 1.3.4，则一切正常。
看来 SDK 1.3.5 中的预置库出了问题，因为这是唯一真正发生变化的地方。
有办法让 SDK 1.3.5 与 JTAG 调试器配合使用吗？
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FX3有办法让SDK1.3.5与JTAG调试器配合使用吗？
关键词： FX3 SDK 调试器 JTAG
2楼
FX3 是 Cypress（现属于 Infineon）公司推出的一款 USB 3.0 至 PCI Express (PCIe) 的桥接芯片。SDK 1.3.5 可能是指与此芯片相关的软件开发工具包（Software Development Kit）。JTAG 调试器则是一种常用的硬件调试工具，用于在硬件级别上调试和跟踪嵌入式系统的行为。对于您的问题，让 SDK 1.3.5 与 JTAG 调试器配合使用，一般来说，SDK 提供了与硬件调试器交互的接口和工具。下面是一些建议的步骤，但请注意，具体的步骤可能会因您使用的硬件和 SDK 版本而有所不同：
安装和配置 SDK：首先，确保您已经正确安装了 SDK 1.3.5，并遵循了任何必要的设置和配置步骤。
集成 JTAG 调试器：您需要确保 JTAG 调试器与您的开发环境兼容，并已正确连接到目标硬件（即包含 FX3 芯片的电路板）。
配置调试环境：在 SDK 中，您可能需要配置调试设置，以指定使用 JTAG 调试器。这通常涉及选择正确的调试器类型、指定调试器连接的端口或接口等。
编写和调试代码：使用 SDK 提供的工具和库，您可以编写和调试针对 FX3 芯片的代码。在调试过程中，您可以使用 JTAG 调试器来单步执行代码、查看变量值、设置断点等。
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