本例单纯使用循环方式直接读取ADC通道0的采样处理结果，在串口输出电压值（单位：毫伏）。

测试时，使用电位器对3.3V进行分压，分压数据输出给通道0。

这样设计的原因是，最大分压值不会超过2V，完全符合CH582M的要求。

代码如下：

#include "CH58x_common.h"
uint16_t adcBuff[40];
volatile uint8_t adclen;
volatile uint8_t DMA_end = 0;
/*********************************************************************
 * @fn      DebugInit
 *
 * @brief   调试初始化
 *
 * @return  none
 *********************************************************************/
void DebugInit(void)
{
    GPIOA_SetBits(GPIO_Pin_9);
    GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_8, GPIO_ModeIN_PU);
    GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_9, GPIO_ModeOut_PP_5mA);
    UART1_DefInit();
}
/**
 * @brief  将ADC原始值转换为实际电压（mV）
 * @param  adc_raw: 12位ADC原始值
 * @param  pga_gain: 初始化时使用的增益，用于电压换算
 * @return 电压值，单位mV
 */
uint32_t ADC_RawToVoltage_mV(uint16_t adc_raw, uint8_t pga_gain)
{
    // CH58x的Vref ≈ 1050mV（典型值），实际应在1.035V~1.065V之间
    const uint32_t VREF_MV = 1050;
    // 增益换算系数 P：0dB→1，6dB→2，-6dB→1/2，-12dB→1/4
    // 公式基于差分模式中间码0x800（2048）计算：
    // 单端模式下，Vin = (|adc_raw - 2048| / 2048 / P) * Vref
    // 此处简化为0dB增益下的正向电压换算（adc_raw通常>2048）
    uint32_t voltage_mv;
    if (adc_raw >= 2048) {
        voltage_mv = ((uint32_t)(adc_raw - 2048) * VREF_MV) / (2048 * pga_gain);
    } else {
        voltage_mv = ((uint32_t)(2048 - adc_raw) * VREF_MV) / (2048 * pga_gain);
    }
    return voltage_mv;
}
/*********************************************************************
 * @fn      main
 *
 * @brief   主函数
 *
 * @return  none
 *********************************************************************/
int main()
{
    signed short RoughCalib_Value = 0; // ADC粗调偏差值
    SetSysClock(CLK_SOURCE_PLL_60MHz);
    /* 配置串口调试 */
    DebugInit();
    /* 单通道采样：选择adc通道0做采样，对应 PA4引脚， 带数据校准功能 */
    GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_4, GPIO_ModeIN_Floating);
    DelayMs(20); // 等待IO稳定
    // 单通道采样初始化：采样频率3.2MHz，增益0dB
    ADC_ExtSingleChSampInit(SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0);
    RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough(); // 用于计算ADC内部偏差，记录到全局变量 RoughCalib_Value中
    // 配置采样通道为通道0（对应PA4 / AIN0）
    ADC_ChannelCfg(0);
    while(1) {
        adcBuff[0] = ADC_ExcutSingleConver() + RoughCalib_Value;
        adcBuff[1] = ADC_RawToVoltage_mV(adcBuff[0], 1); // 0dB增益时 P=1
        PRINT("%d \n", adcBuff[1]); // 注意：由于ADC内部偏差的存在，当采样电压在所选增益范围极限附近的时候，可能会出现数据溢出的现象
        DelayMs(100);
    }
}

为了方便浏览数据的变化，输出结果由串口将数据绘制为曲线。

上记结果是在测试时固定了电位器一个测试点不动进行测量的，没有做滤波、屏蔽处理。从结果来看，数据的偏移不大的，几乎不变，挺好的。