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2006泛华测控系统技术应用研讨会举行

打造应用品牌 引领测控潮流
近日,由北京中科泛华测控技术有限公司主办的2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在北京九华山庄胜利举行。此次研讨会以现代测控系统技术应用为核心,结合美国国家仪器有限公司(NI)的虚拟仪器产品的热点应用与系统集成案例,由泛华、NI和其他应用方案提供商的专家向来自各行业的测控应用工程师们介绍了虚拟仪器系统的主流技术、发展方向、以及应用市场和应用案例,为测控行业创造了一个极好的沟通渠道和交流平台。
基于虚拟仪器技术的测控系统作为一种以计算机系统为核心、结合模块化测试测量设备的测试技术,以其技术的先进性及应用的灵活性和广泛性得到业界的认可,并在市场上取得了与传统的台式仪器一分天下的巩固位置,其发展前景非常乐观。北京中科泛华测控技术有限公司,作为“虚拟仪器技术”创造者NI在中国国内的唯一代理和系统联盟商,于1995年首先向国内引入“虚拟仪器技术”的概念,并一直致力于虚拟仪器技术的转化、系统集成、市场推广以及技术培训。8年来,泛华的不懈努力取得了丰硕的成果。中国国内市场对虚拟仪器技术从概念的接受到技术方案的采用取得了突破性的进展。泛华先后在Labview、SCXI、PXI、数据模块化处理、在线测量、并行测试数据处理、故障诊断、测试环境仿真等方面引领了中国NI技术的发展方向,在一定意义上支撑了虚拟仪器技术在中国的发展和技术升级,为中国现代测控技术的发展和实践做出了贡献。
此次举办的2006“泛华”测控系统技术应用研讨会,是泛华为业界提供推广测控技术、交流行业经验、加强行业合作的一次尝试。借助NI优秀的产品技术和泛华丰富的系统集成经验及创新的研发能力,泛华希望能够通过此次会议进一步推动虚拟仪器技术在国内的应用和发展,同时树立泛华在应用创新和系统集成方面的核心竞争力及企业品牌。
本次研讨会主要议题有:
NI最新产品及未来产品发展方向;
控制单元运行环境仿真测试系统;
基于LabVIEW RT的自定义流程测控系统;
用户应用案例-基于PXI总线的光纤光栅技术应用案例介绍
国内前沿PXI总线技术应用
DAQ事业部为OEM提供增值服务
关键词: 泛华 测控 系统 技术应用 研讨会 举行 技术 仪
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