测量这些材料的一种最常用的测量技术是使用 4 线或 “Kelvin” 测量。采用 Kelvin 测量技术时，需要第二组探头用于感测。因为这些探头中的电流可忽略不计，所以只用测量 DUT 两端的压降，如下图所示。因此，电阻测量或 I-V 曲线发生就更准确了。

吉时利 4200-SCS 型半导体特性分析系统中的吉时利交互式测试环境 (KITE) 允许任何纳米科学领域的研究人员培养轻松、快捷地配置测量测试的能力。KITE 是一款用于纳米材料和器件以及半导体器件特性分析的应用程序。测试中的源和测量功能由源测量单元(输出并测量直流电压和电流的电子仪器) 提供。测试能力的扩展可以通过各种外部组件的支持实现。这是碳纳米管 I-V 测试的设置范例以及单壁碳纳米管的 I-V 扫描结果：