EVL4248-QV-00A评估板拿到后,详细阅读了开发板的Datasheet以及MP4248芯片的Datasheet,基于现有条件,决定对该评估板的线性调节率、负载调节率、纹波三项指标做一个初步的实际测试,测试环境如图0所示。

图0 测试环境
一、线性调节率测试
芯片手册给出的线性调节率曲线如图1.1所示。

图1.1 线性调节率曲线
从图中可以看到当Vin=12V时,空载输出Vout基本应该就是5V,误差低于0.1%。我用同一块万用表测量是Vin与空载下Vout,如图1.2所示。

图1.2 Vin(左)Vout(右)
实际测试结果:(5.065-5)/5x100%=1.3%,这比图1.1曲线中给出的数值偏大。
二、负载调节率测试
芯片手册给出的负载调节率曲线如图2.1所示。

图2.1 负载调节率曲线
从图中可以看到当Vout=5V时,空载输出Vout_0A与2A负载输出Vout_2A相比,带载会引起差不多0.4%的电压低落。实际测试中图2.2所示。

图2.2 Vout_0A(左)与Vout_2A(右)
实际跌落(5.065-5.062)/5.062x100%=0.06%,这一指标倒是比图2.1曲线中的数值低得多。
三、纹波测试
芯片手册给出的纹波曲线如图3.1所示。

图3.1 纹波曲线(Vin=12V)
从图中可以看到当Vout=5V空载输出时,纹波幅值大约25mVp-p,频率大约414kHz。实际测试中图3.2所示。

图3.3 空载纹波(左)与2A负载纹波(右)
实际测试空载纹波24mVp-p,与图3.1所示差不多,2A负载时纹波比空载时还要小一些。纹波频率无论空载还是带载,与图3.1所示相差不多。
以上就是对EVL4248-QV-00A评估板线性调节率、负载调节率、纹波三项指标的初步实际测试。如果要进一步测试不同输出电压下的表现,需要图4.1所示的EVKT-USBI2C工具,对芯片内部寄存器进行读写,手边没有该工具,只能作罢。

图4.1 EVKT-USBI2C
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