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　　微捷码(Magma)设计自动化公司发表有片上扫描链压缩功能的Talus  ATPG与Talus ATPGX。这些先进的自动测试向量生成(ATPG) 产品使设计师能明显改进测试质量, 减少周转时间并且降低纳米级芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX进 入Talus 物理设计环境, 微捷码提供唯一真正实现物理相关DFT（Physically Aware DFT） 的IC 实现流程。
     
　　今天芯片设计的复杂度和更小的尺寸使测试制作的IC更加复杂。新的失效机制不断涌现。传统上, 多数瑕疵是在门级网表上使用由ATPG 五金|工具产生的stuck-at模型来检测的 。今天要维持必需的百万分之一的瑕疵率(DPM), IC 制造者必须使用与时序、布局和功率相关的瑕疵检验技术。结果, 质量测试现在要求使用更多缺点模型以及从各种各样的设计工具中产生的费时和易出错的数据。传统ATPG 工具没有这种性能或能力来提供纳米级IC测试质量和周转时间所需的水平。
     
　　Talus ATPG设计之初就是为了并行处理多种失效模型, 以提高测试质量和设计周转时间。它充分地整合进微捷码的Talus IC实现系统并利用统一的数据模型架构来高效率地得到时间、布局、功率和其它一般ATPG 工具无法获得的设计信息。这使Talus ATPG 可产生其它工具无法生成的测试向量。例如, Talus ATPG 可为极小的桥梁瑕疵和干扰进行测试。使用统一资料模型也允许Talus ATPG 支持当前几乎所有的缺点模型, 也可以容易地支持未来模型,和提供更好的易用性。