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常用中英文测试测量术语大全
只看楼主 1楼
Absolute Accuracy(绝对准确度) :
仪器的读数和对于公认的标准机构认可的标准具有绝对溯源性的一级标准的读数之间接近程度的度量。
Auto-Ranging(自动量程):
仪器自动地在各个量程之间切换,以确定给出最高分辨率的量程的能力。各个量程通常是按十进值步进的。
Auto-Ranging Time(自动量程时间):
对于具有自动量程能力的仪器来说,自动量程时间是从向仪器加入步进输入信号到仪器显示出结果之间的时间间隔,其中包括确定并改变到正确量程的时间。
Bandwidth(带宽):
在一定的限度内能够通过或者放大的频率范围。带宽通常按-3dB(半功率)点来规定。
Capacitance(电容):
在电容器或者由导体和介电材料组成的系统中,当导体之间存在电位差时,能够储存电气上分离的电荷的性质。电容与电荷及电压的关系为:C=Q/V,其中C为以法拉为单位的电容, Q为以库仑为单位的电荷,V为以伏特为单位的电压。
Carbon Nanotube(碳纳米管):
由单层碳原子形成的、具有新的电学和张力性质的管状纳米器件。这种纤维可能表现出象铜那样高的导电性,,象金刚石那样的导热性,其强度比钢高100倍,而 重量却只有钢的六分之一,能够承受很高的应变而不会损坏。这种材料可以是超导体、绝缘体、半导体或者导体(金属)。非碳的纳米管通常称为纳米线,通常由氮 化硼或者硅生成。
Channel (switching)(通道与开关):
开关卡上若干个信号通道之一。对于扫描器或多路选通卡来说,在测量电路中通道用作开关输入,在源电路中通道用作开关输出。在开关卡上,每个通道与其它的通道独立。在矩阵卡上,通道则由行列交叉点上的继电器的动作而形成。
Contamination(沾污):
通常用来说明不希望的物质对半导体或绝缘体的物理、化学、或电学性质的不良的影响。
D/A(Digital-To-Analog)Converter(数模变换器):
用来把数字信息变换成模拟信号的电路。在很多的仪器中都使用数模变换器来提供隔离的模拟输出。
Digital Multimeter(DMM)(数字多用表):
将模拟信号变换成数字信息并进行显示,测量电压、电流、电阻、或其它电参数的电子仪器。
Drift(漂移):
输入信号或者工作条件不变时,读数的逐渐变化。
Dry Circuit Testing(干电路测试):
为了不影响被测器件的氧化层或者使其发生其它性能下降,保持器件两端的电压为一定电平
关键词: 常用 中英文 测试 测量 术语 大全
2楼
Sensitivity(灵敏度):
可以测量或显示的最小的量。
Settling Time(建立时间):
对测量仪器来说,是指从加入阶跃输入信号到按照额定的准确度指示出其幅度值的时间;对源仪器来说,是指从程控仪器进行改变到在其输出端得到该数值的时间。参见Response Time。
Shielding(屏蔽):
围绕着被测量电路的金属闭合体或者围绕着导线(同轴电缆或者三同轴电缆)的金属套,用来接收干扰、交互作用和泄漏。屏蔽通常接地或者连到输入低端。
Source-Measure Unit(SMU)(源-测量单元):
能够输出和测量直流电压和电流的电子仪器。一般的说,SMU具有两种工作模式:电压源、电流测量,或者电流源、电压测量。又称为源-监视单元或者激励-测量单元。
SourceMeter(数字源表):
数字源表仪器在很多方面类似于源-测量单元,这包括输出和测量电流和电压以及进行扫描的能力。此外,数字源表仪器能够直接以电阻、电压和电流的形式显示测量结果。它是为通用的、高速生产测试应用而设计的。它也可以在中-低电平测量中作为源来使用,或者用于研究工作中。
Source Resistance(源电阻): 源阻抗的电阻分量。
Switch Card(开关卡):
具有独立或者绝缘的继电器,来切换每个通道的输入和输出的一类电路卡。
Switching Mainframe(开关主机):
用来连接源、测量仪器和被测设备的信号的一种开关仪器。这种主机又称为扫描器、多路器、矩阵或者程控开关。
Systematic Error(系统误差):
受系统误差方式影响的大量测量结果的平均值与真值的偏差。参见Ran dom Error。
Temperature Coefficient(温度系数):
对读数(或者输出值)随温度的变化而变化的一种度量。表示为每度温度变化时的读数(或者输出值)的百分数加上字数。
Temperature Coefficient of Resistance(电阻温度系数):
每度温度变化时,材料或器件的电阻变化量,通常表示为ppm/℃。
Thermoelectric EMFs(热电动势):
在电路中,或者当不同材料的导体结合在一起时,由于温度差而产生的电压。
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