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漏电流测试

当施加一个低于击穿电压的反向电压时，对HBLED两端的漏电流[1]（IL）的测量一般使用中等的电压值。在生产测试中，常见的做法是仅确保漏电流不不至于超过一个特定的阈值。

提升HBLED的生产测试的吞吐率

过去，HBLED的生产测试的所有环节都由单台PC来控制。换而言之，在测试程序的每个要素中，必须针对每次测试配置信号源和测量装置，并在执行预期的行动后，将书记返回给PC。控制PC根据通过/不通过的标准进行评估，并决定DUT应归入哪一类。PC发送指令和结果返回PC的过程将耗费大量的时间。

最新一代的智能仪器，包括吉时利公司最新的大功率2651A[2]系统信号源/测量仪（SourceMeter），由于可以最大限度减少通信的流量，从而可以大幅度提升测试吞吐率。测试程序的主体嵌入到仪器中的一个Test Script处理器[3]（TSP®）中，该处理器是一个用于控制测试步骤的测试程序引擎，内置通过/不通过标准、计算和数字I/O的控制。一个TSP可以将用户定义的测试程序存放到存储器中，并根据用户需要来执行该程序，从而减少了测试程序中每个步骤的建立和配置时间。

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[1] 漏电流：http://www.keithley.com.cn/llm/a/13.html

[2] 2651A：http://www.keithley.com.cn/products/dcac/currentvoltage/highcurrent/?mn=2651A

[3] TSP：http://www.keithley.com.cn/events/proddemos/newdemofolder/TSP.html