EEPW论坛

•
简介
ADI公司的iCoupler产品提供了一种替代光耦的隔离解决方
案，具有出色的集成度、性能和功耗特性。一个iCoupler
隔离通道包括CMOS输入和输出电路与一个芯片级变压器
(见图1)。由于iCoupler采用CMOS技术，因此在系统级ESD
(静电放电)、电涌电压、快速瞬变或其它过压条件下，它
比光耦更容易受到闩锁或ESD的破坏。
图 1.  ADuM140x四通道隔离器
本应用笔记提供关于避免这些问题的指南。针对各种系统
器件与系统
简单地说，器件是带互连线的单一集成装置，而系统则是
由多个互连器件构建而成的非集成装置。器件与系统几乎
在所有情况下都是泾渭分明。但是，器件测试与系统测试
之间的区别可能并不是那么明显。此外，器件的技术规格
可能并未直接说明它在系统级测试中的表现。ESD测试就
是一个很好的例子。
ESD、电涌、突波和快速瞬变事件是电气应用中的基本现
实。这些事件一般都含有高压、持续时间很短的尖峰，并
且直接或间接作用于器件。其产生原因是器件与各种实际
现象的交互，如人体接触、交流线路扰动、雷击或系统地
之间的共模电压差等。
器件级ESD测试非常有用，可以确定器件在组装成系统之
前以及组装过程中被人和自动化组装设备处理时的稳定
性，。然而，对于确定器件在系统内遭受系统级ESD事件
的稳定性，器件级ESD数据则不太有用。其原因有如下两
方面：
ESD


AN-793：iCoupler_隔离产品的ESD,闩锁考虑因素.pdf