网站首页
这些小活动你都参加了吗？快来围观一下吧！>>
电子产品世界 » 论坛首页 » 综合技术 » 测试测量 » 【解决方案】Agilent 81250 用于平面显示器链路测试

共1条 1/1 1 跳转至页

【解决方案】Agilent 81250 用于平面显示器链路测试

Flora0217
高工
2012-04-19 21:09:27     打赏
  本文重点介绍了使用两个时钟组的解决方案，它可以有效地在DUT并行一侧利用PRWS的特性。应该指出，也可以只使用一个时钟组执行测试。在这种情况下，对DUT的输出的取样速率要7倍于其数据的变化速率。不能从内置的PRWS特性中获得预期数据。但可借助于对黄金标准器件进行采样，或通过使用“BestLink 81200”软件从仿真中获得预期数据。本产品指南重点介绍了针对具有LVDS输入和输出的LVDS器件的测试，其支持的最小振幅为250mV。5968-8028CHAAgilent 81250 用于平面显示器链路测试.pdf
回复
收藏
0



关键词： 解决方案     Agilent     81250     用于     平面         

共1条 1/1 1 跳转至页

回复

匿名不能发帖！请先 [ 登陆 注册 ]