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在本文的前面，介绍过四个降低测试成本的关键因素：缩短测试时间、缩短开发时间、减少测试设备所占的面积和机架的空间大小以及降低系统的保有成本。每个因素都有许多有待研究的方面。

缩短测试时间。当DUT装入测试夹具或测试夹具从一个DUT循环至下一个DUT时，几个不同的时间间隔构成了测试系统总循环时间的绝大部分。这些时间间隔取决于系统设计，一般包括：

u 源激励时间（包括信号的瞬态响应时间）

u DUT稳定时间

u 测量时间

u 源－测量仪器的量程改变次数

u 分立的仪器之间或PC控制器和测试仪器之间的触发延迟时间

u 测试命令、数字输入/输出、触发以及将所采集的数据移至存储器或PC内存中所需的数据通信时间

u 比较测量值和极限值并作出通过/ 失效判别或分选判别所需的程序执行时间

u 测试夹具的物理运动或电子开关的间隔时间