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稳定的测试环境是进行准确的低电平测量的基本条件。本节阐述可能影响低电平测量准确度的重要环境因素。 

温度和温度稳定性 

温度变化能在几个方面影响低电平测量工作，包括：引起绝缘体的热膨胀或收缩，产生噪声电流等。此外，温度上升还会引起仪表偏置电流的增加。一般规律是温度每上升10℃，JFET门极泄漏电流增加一倍。但是大多数静电计都进行了温度补偿，在很宽的温度范围内尽量降低了输入电流的变化。 

为了尽量减小温度变化引起的误差，应当使整个系统在温度稳定的环境中工作。让灵敏的仪器远离热的位置（例如机架的顶部），并在进行测量之前使整个系统达到热稳定状态。系统达到热稳定状态之后，使用调零或零点抑制功能消除偏置量。每当环境温度变化时，都要重复消零操作。为了确保最佳的准确度，应当在要进行测量的量程上进行消零操作。 

湿度  

过高的湿度会降低印制电路板和测试连接绝缘子的绝缘电阻。当然，绝缘电阻的降低会严重影响高阻抗测量工作。此外，湿度或湿气还能够与存在的污染物结合起来，产生电化学效应，并产生偏置电流。 

为了尽量降低湿气的影响，应当降低工作环境中的湿度（理想情况为<50%）。确保测试系统中的所有元件和连接器清洁、无污染。进行清洁处理的时候，只使用纯净的溶剂来溶解油脂和其它的污染物,然后用新的甲醇或去离子水冲洗清洁过的区域。使清洁过的区域干燥几个小时后再使用。

光

 某些元件，如二极管、三极管等都是很好的光探测器。所以这些元件都必须在闭光的环境中测试。为了确保测量的准确度，应当检查测试夹具的门、门铰链、管道进口点、连接器和连接器面板等处是否漏光。

 电离干扰

 极低电平（<100fA）的电流测量可能会受到诸如阿尔法粒子源等的电离干扰的影响。一个单个的阿尔法粒子能够产生每厘米30000到 70000个正、负离子的踪迹，这些粒子可能受到周围电场的作用而极化或运动。另外，撞击电流敏感节点的粒子能够产生大约每个粒子10fC 的“电荷跳变”。

 有几种办法可以尽量降低测试系统中电离干扰引起的噪声。首先，尽量减少灵敏输入节点周围屏蔽装置内的空气体积。而且，要使灵敏的节点远离高强度电场。

 RFI（射频干扰）

 来自射频源的干扰能够影响各种灵敏的静电计的测量工作。这种类型的干扰表现为读数的突然变化而无明显的理由。

 输入电路中的非线性器件或结能够将RF能量整流，并引起很大的误差。这类射频干扰源可能是附近的发射机、接触器、电磁阀门、甚至蜂窝电话和便携式对讲机。

 一旦确定了干扰源，可以使用屏蔽和在适当的地点增加缓冲电路网络或滤波器等措施来降低或消除射频干扰。