在多通道SMU/I-V测试以及温度应用中存在着最大的销售机会,如图1所示。
图1 3700系列主机的目标应用
多通道I-V应用
主要使用案例:
在要求多通道(>2通道)或重新配置通道的2600系列源测量单元的任何应用中,都以使用3700系列产品。
应用实例:
一个应用实例是使用两端器件,如热敏电阻、二极管、电阻器等。典型测试系统配置包括一个或多个26xx源测量单元及开关(如图2所示)。通过TSP-Link将开关系统与26xx源测量单元连接在一起。这种类型的应用测试通常要求接触检查(在26xx源测量单元内部)、高速(TSP与TSP-Link硬件触发)、器件夹具接口(数字I/O)以及通过/失效决策(TSP脚本)。
3706型产品的特性与益处是:
• TSP(脚本语言与源测量单元SMU相同)
• TSP-Link(允许直接连接至SMU,用于控制)
• 低成本(替代多个源测量单元的最低成本开关)
• 开关卡专为SMU I-V特性测试指标而进行优化:
- 通用:200V DC,承载电流3A
- 高速/长寿命干簧继电器:200V DC,承载电流1.25A
图2 多通道I-V系统实例
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