EEPW论坛

之前我在网上搜索如何延长EEPROM寿命的问题，后面经大神推荐选择了用FRAM来替代。

前两天在某公司申请的FRAM样片到了，今天就拿来做测试。

我原本的测试方案就是跟以前测试EEPROM一样，
“读写数据后最对比，若数据一致则记录一次成功，重复记录N次直至数据不一致”

但是进行测试的时候，我突然意识到一个问题。我在FRAM的介绍里面看到说：
“FRAM读写次数超限之后它只是不再有非易矢性，但是还能当做普通的RAM来用。”
那是不是就是说，只要一直上电着的话，后面没有非易失性之后，只要一直通电还是能够正确读写。
所以如果要把它当EEPROM来测试的话，按理说是要“写入数据后断电再上电后读取数据，比较是否一致，一致则计数”。
然后重复测N次得到非易失性的有效读写次数。

但是又不能直接拿STM32的引脚来驱动FRAM芯片的VCC，又不能老是手动断电上电这么来测，这下有点找不准方向了。


想知道论坛里面各位大神有没有什么好的测试方案木有。。。