接收机质量和测试仪速度的提高对信号发生器性能提出了更为严苛的要求。随着频谱日益拥挤，通信行业必须开发新的调制技术，提高组件测试速度和性能及生产能力。因此，现在比以往更加需要经济高效的高质量信号源解决方案。


　　现代技术的进步实现了频率合成器设计的小型化和简单化，相较于之前的产品，其尺寸和成本都有大幅的下降。在信号发生器体积更小、重量更轻的同时，其功能还可以随着产品的发展不断进行扩展。今天松季电子重点介绍射频信号源的低相位噪声与晶振的关系。


　　尽管声表面波振荡器一直是1GHz 频段低噪声信号源，但采用倍增大功率VHF 晶振仍是最好的方法。问题是高频晶振可以降低噪声，但会加大内插步长难度，低频晶振可以缩小步长，但会造成噪声成倍增加。为了解决这种矛盾，采用135MHz晶振和小数乘法器，信号频率范围967 MHz到1350 MHz，步长22.5 MHz，与 22.5MHz 晶振相比，采用135MHz晶振时本底噪声可改善16 dB。


　　晶振设计人员面临相互矛盾的要求。良好相位噪声需要大功率，缩小调谐范围。受测试仪生命周期晶振老化的影响，压控晶体振荡器 (VCXO) 锁定特定频率需要小功率和较宽的调谐范围。解决办法是采用大功率振荡器降低噪声，以数字方式处理晶振老化。135MHz晶振是10MHz标准参考频率相位比较振荡器，可产生精确的频率输出。内插频率合成器动态编程实时修正频偏。