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晶振频率的稳定性很高，可问题就在这，我们要如何测量晶振的频率是多少？凯越翔给大家介绍一种贴片晶振频率测量方法，其校频电路简单适用，无论用来挑选晶体或检查晶体的好坏、或校频等均可使用。

对晶振的负载谐振频率进行测量其实有很多种方法，那么直接阻抗法就是其中一种，它使用网络分析仪，比物理负载电容法等其它方法更加准确、方便并且成本更低。本文介绍如何使用直接阻抗法进行测量并通过实测数据说明它好于其它测量方法的原因。

在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难，问题主要在于负载谐振频率(FL)的测量，特别是负载电容(CL)很低的时候。晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高，用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度，一般来说这样的要求不切实际，成本太高，因此技术人员又开发了几种负载谐振频率测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。

这就是凯越翔整理的关于晶振频率和电阻的测试方法，可以看出方法并不是唯一的，在测试过程中还需选择合适的方法去测量，能让我们的工作起到事半功倍的效果。

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