半导体元器件OM检测
主要用途
样品外观、形貌检测。
性能参数
a)总放大倍数为50x-1000x；
b)目标Z空间：0-25mm；
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷；
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式
应用范围
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
 我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| 【S32DS】S32K3 RTD7.0.1 HSE 组件配置报错问题解决被打赏￥27元 | |
| 【S32K3XX】MCME 启动 CORE1被打赏￥23元 | |
| AG32VH407下温度大气压传感器及其检测被打赏￥20元 | |
| AG32VH407下光照强度传感器BH1750及其检测被打赏￥22元 | |
| AT32VH407下使用温湿度传感器DHT22进行检测被打赏￥20元 | |
| DIY一个婴儿澡盆温度计被打赏￥34元 | |
| 【FreeRtos】FreeRtos+MPU region 配置规则被打赏￥23元 | |
| 【分享开发笔记，赚取电动螺丝刀】三分钟快速上手驱动墨水屏(ArduinoIDE)被打赏￥28元 | |
| 【S32K3XX】LIN 通讯模块使用被打赏￥31元 | |
| 【FreeRtos】FreeRtos + MPU模块的配置使用被打赏￥32元 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
