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　电路的故障类型较多，产生故障的原因也各有不同，因此排除故障的方法也不一样。当电路发生故障时，根据故障现象，通过检查、测量，分析故障产生的原因并确定故障的部位，找到发生故障的元器件。
　　一般比较简单的电路，其故障原因往往也比较简单，故障的分析与定位较容易；而较为复杂的电路，其故障往往也较为复杂，故障原因的分析与定位相对也就要困难一些。下面讨论电路故障分析与定位的常用方法。
　　一、直接观察法
　　所谓直接观察法是指不借助于任何的仪器设备，直接观察待查电路的表面来发现问题、寻找故障的方法，一般分为静态观察和通电检查两种，其中的静态观察包括如下几方面内容。
　　1、观察元器件表面是否有烧焦的印迹，连线及元器件是否有脱落、断裂等现象发生。
　　2、观察仪器使用情况。仪器类型选择是否合适，功能、量程的选用有无差错，共地连接的处理是否妥善等。首选排除外部故障，再进行电路本身的观察。
　　3、观察电路供电情况。电源的电压值和极性是否符合要求，电源是否已确实接入了电路等。
　　4、观察元器件安装情况。电解电容的极性、二极管和三极管的引线端子、的引线端子有无接错、漏接、互碰等情况，安装位置是否合理，对于扰源有无屏蔽措施等。
　　5、观察布线情况。输入和输出线、强电和弱点线、交流和直流线等是否违反布线原则。
　　静态观察后可进行通电检查。接通电源后，观察元器件有无发烫、冒烟等情况，变压器有无焦味或发热及异常声响。
　　直接观察法适用于对故障进行初步检查，可以发现一些较明显的故障。
　　二、仪器测试法
　　1、断电测试法
　　是在电路断电条件下，利用万用表欧姆档测量电路或元器件电阻值，借以判断故障的方法。
　　如检查电路中连线、焊点及熔丝等是否断路，测量电阻值、电容器漏电、电感器的通断，检查半导体器件的好坏等。
　　测试时，为了避免相关支路的影响，被测元器件的一端一般应与电路断开，同时，为了保护元器件，不要使用高阻挡和低阻挡，以防止高电压或大电流损坏电路中半导体器件的PN结。
　　2、带电测试法
　　是一种在电路带电条件下，借助于仪器测量电路中各点静态电压值或电压波形等，并进行理论分析，寻找故障所在部位的方法。
　　如检查晶体管静态工作点是否正常，集成器件的静态参数是否符合要求，数字电路的逻辑关系是否正确等。
　　3、信号寻迹法
　　是根据需要在电路输入端加入符合要求的信号，按照信号的流程从前级到后级，用示波器或电压表等仪器逐级检查信号在电路内各部分传输的情况，分析电路的功能是否正常，从而判断故障所在部位。
　　通常应在电路静态工作点处于正常的条件下使用这种方法。
　　4、分割测试法
　　对于一些有反馈的环形电路，它们各级的工作情况互有牵连，这时可以采用分割环路的方法，将反馈环去掉，然后逐级检查，可以更快的查出故障部位。
　　对自激振荡现象也可以用这种方法检查。
　　5、对比法
　　怀疑某一电路存在问题时，可找一个相同的正常电路进行比对，将两者的状态、参数进行逐项对比，很快就可以找到电路中不正常的参数，进而分析出故障原因并查找到故障点。
　　6、替代法
　　有时故障比较隐蔽，不能很快找到，需要进一步检查，这时可用已调试好的单元电路或组件代替有疑问的单元电路，以此来判断是否出在此单元电路。
　　在确定了有问题的单元电路后，还可以在该单元电路中采用局部替代法，用确认良好的元器件将怀疑有问题的元器件替代下来，逐步缩小故障的怀疑范围，最终找到故障点。本文转载于西安安泰仪器维修中心网，欢迎留言探讨。