做工业产品最关键的是可靠。可是总是听到有人说eeprom里的数据会丢失,用上eeprom,很多人就认为不可靠。 我个人的观点: 在上电掉电过程中,eeprom内的数据有可能会丢失 可以通过设置熔丝位BOD,起动延时65ms,就样子就好了。 请大家说说,还有什么情况下eeprom内的数据可能会丢失,如何解决? 此外,比如说eeprom地址0x01,里的数据1,丢了。 0x01地址里的数据是变为0,还是0xff? ![]() |
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大家来探讨一下 EEPROM的可靠性

我对AVR较熟悉,我也谈谈吧!
EEPROM掉电丢数据这个特点可不是AVR独有的。很多年前在89C51+24C02的系统里面就遇到过,我不知道铁电有什么比24C02更牛的地方,居然能保证不丢数据。原因很简单,就是掉电过程中,电压降低到MCU无法正常工作的程度,程序跑飞了,单片机引脚状态完全不可控,某次掉电就可能发出错误的写24C02的指令。上电的时候因为RESET处于有效状态,MCU引脚状态完全确定(对于51来说就是全1),是不可能误操作24C02的。解决方案很简单,加一片MAX813L,当电压低于4.6V就锁定89C51,问题彻底解决。这么多年也没见24C02被误改写。
最早的一批AVR内置了EEPROM却没有BOD,所以EEPROM被误改写是家常便饭,ATMEL很快发现了这个问题,新推出的AVR全都含有BOD乐。AVR的情况比较复杂,振荡方式和复位方式都有多种,所以不仅掉电会改写EEPROM(原因同上),上电也会!RESET过程结束前,必须有若干XTAL,MCU内部寄存器(包括软件不可见的)才会清零,如果RESET结束了才来时钟,上电就是程序乱飞,同样有可能改写EEPROM。用RC振荡方式问题不大,有电就能振起来,用石英晶体就会出问题,我测过89C51的,上电后20ms才振起来,如果电源上有大的滤波电容,VCC的上升斜率变小,晶体起振时间会变得更长!有存储示波器的朋友可以自己测一下,对晶振的起振有个感性认识。

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