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摘要
 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。  建模任务  元件倾斜引起的干涉条纹 
 元件移位引起的干涉条纹  文件信息
 
更多阅览
-  Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
-  Fizeau Interferometer for Optical Testing