光学断层扫描干涉法-电子产品世界论坛

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光学断层扫描干涉法

工程师

2023-02-08 17:33:45 打赏

摘要
扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。

建模任务

结果

文件信息

tanfpga

专家

2023-02-08 22:19:49 打赏

2楼

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