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今儿写一段代码，看看它在不同优化等级下的运行时间。先来看看我们的测试程序代码

void delay_1us(void)
{
  uint32_t i;
  for (i = 0; i < 31; i++)
  {
    __NOP();
  }
}

这段测试代码的初衷是定时延时，通过让MCU原地踏步的方式进行延时处理，比如控制DS18B20等。如果我们调试好这个延时函数，这段延时是不是就不会变了呀？我们通过实验确定一下！

我使用STM32F407为测试环境来验证。这段代码的运行时间，我们使用systick的counter计数值来测量——因为一个counter代表MCU的主频一个周期。测量时间代码的源程序如下：

  reg_tbl[0] = SysTick->VAL;
  delay_1us();
  reg_tbl[1] = SysTick->VAL;
  reg_tbl[2] = reg_tbl[0] - reg_tbl[1];

我们可以运行上述程序，并通过内存查看reg_tbl[2]的数值即可判断出来其运行的时间。

来直接上图：

上图是Keil的优化等级为O0下编译并在flash中运行的时间间隔。

上图是Keil的优化等级为O3下编译并在flash中运行的时间间隔。

通过两张图片我们可以清楚看出，Keil通过优化等级的设定改变了延时函数的运行时间。

各位坛友们，如果使用nop的方式延时的话，注意这个优化等级的事情呀！