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元器件操控器将单个HBLED（或者一组HBLED）运送到一个测试夹具上，夹具可以屏蔽环境光，且内带一个用于光测量的光电探测器（PD）[1]。需要使用两个SMU：SMU#1向HBLED提供测试信号，并测量其电响应；SMU#2则在光学测量过程中检测光电探测器。  

测试程序可以被编程设定为，在一根来自于元器件操控器的数字信号线[作为“测试启动”（SOT）[2]]控制下启动。当仪器探测到该信号时，测试程序启动。一旦执行完毕，则让元器件操纵器的一条数字信号线发出“测试完毕”的标志。此外，仪器的内建智能可以执行所有的通过/不通过操纵并通过仪器的数字I/O端口发送数字指令至元器件操纵器，以便让HBLED能根据通过/不通过标准来对HBLED进行分类。于是可以通过编程让两个动作同时执行：数据传送至PC进行统计处理，而同时一个新的DUT[3]运送到测试夹具上。

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[1] 光电探测器：http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/localizedproducts/2004_china_catalog.pdf

[2] SOT: http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/2499digio

[3] DUT：http://www.keithley.com.cn/events/proddemos/27xxdemo/demoimages/PD1_DUT.jpg/view