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【求助】关于FRAM替代EEPROM的芯片测试方案

菜鸟
2013-09-03 10:58:50    评分
之前我在网上搜索如何延长EEPROM寿命的问题,后面经大神推荐选择了用FRAM来替代。


前两天在某公司申请的FRAM样片到了,今天就拿来做测试。

我原本的测试方案就是跟以前测试EEPROM一样,
“读写数据后最对比,若数据一致则记录一次成功,重复记录N次直至数据不一致”

但是进行测试的时候,我突然意识到一个问题。我在FRAM的介绍里面看到说:
“FRAM读写次数超限之后它只是不再有非易矢性,但是还能当做普通的RAM来用。”
那是不是就是说,只要一直上电着的话,后面没有非易失性之后,只要一直通电还是能够正确读写。
所以如果要把它当EEPROM来测试的话,按理说是要“写入数据后断电再上电后读取数据,比较是否一致,一致则计数”。
然后重复测N次得到非易失性的有效读写次数。

但是又不能直接拿STM32的引脚来驱动FRAM芯片的VCC,又不能老是手动断电上电这么来测,这下有点找不准方向了。


想知道论坛里面各位大神有没有什么好的测试方案木有。。。



关键词: FRAM     EEPROM     替代     测试    

高工
2013-09-17 23:00:06    评分
2楼
测试次数??这个问题我觉得有点夸张,一般测试个几万次也不见得能测试出个结果,人工测试简直就是天方夜谭,芯片厂商在出厂前会有测试,然后会在DS上标明最少擦除次数和使用寿命。估计没人会手动做测试寿命这事吧。。。。。。楼主咋想的

高工
2013-09-18 11:07:34    评分
3楼

貌似有过这类的测试仪器,不过价格不是一般公司能承受的。


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