如“TJ的估算:使用ΨJT的计算示例”中所述,使用ΨJT估算TJ时需要TT值。为了获得TT值,就需要测量各半导体元器件的封装顶部中心温度。
测量电子元器件表面温度的方法有两种:①使用热电偶的接触式测量;②使用辐射温度计或测温仪等测量物体表面辐射出来的能量。不过在现实中,测量已安装在电路板上的各元器件的表面温度时,多使用①中的热电偶方法,所以在这里我们将介绍一下使用热电偶测量表面温度时的相关要点。
热电偶的种类热电偶(IEC标准热电偶)分为很多种类,用B、R、S、N、K、E、J、T、C型等符号来表示。每种热电偶都都其可测量的温度范围和特性特点。下表中列出了K型和T型热电偶的特点,这两种通常多用于测量电子元器件和设备等的温度。
K型 | 绿色 | 镍铬合金 热导率 (~19W/mk) | 镍铝合金 热导率 (~30W/mk) | 1 | -40~+375 | ±1.5 |
2 | -40~+333 | ±2.5 | ||||
3 | -164~+40 | ±2.5 | ||||
T型 | 棕色 | 铜 热导率 (~385W/mk) | 铜镍合金 热导率 (~19W/mk) | 1 | -40~+125 | ±0.5 |
2 | -40~+133 | ±1.0 | ||||
3 | -67~+40 | ±1.0 |
为了更大程度地减少从热电偶的散热量,在本文中使用了K型热电偶。
此外,我们选用了本身容差很小的一等标准热电偶和AWG38(JEDEC标准推荐使用AWG36~40)导线。
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