我正在查看 Aurix pFlash 内存部分是如何在微控制器级别上创建 ECC 写入错误的,以及他们是如何通过故障注入技术使用它产生多位错误的
通常 ecc 错误是使用高电压和其他方法产生的,但为了测试 ecc 错误,我们使用一种称为故障注入的方法。
1) 我正在使用 Trace 32,在这里需要一些指导,比如如何通过 Trace32 创建 ECC 错误,以及这样做的测试程序是什么。
2) 我想知道要监控的确切寄存器是哪些,以确认 pFlash 在 PFI2 中正确生成了特定的 ECC 错误
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AurixpFlash内存部分是如何在微控制器级别上创建ECC写入错误的?
2楼
要在Aurix pFlash内存部分上创建ECC写入错误,并使用故障注入技术产生多位错误,可以按照以下步骤进行:
1) 使用Trace32工具创建ECC错误:
- 首先,确保你已经连接了正确的目标设备并启动了Trace32工具。
- 在Trace32工具中,使用control命令来跟踪和控制目标设备的执行。
- 要在pFlash内存中创建ECC错误,你需要找到相应的pFlash内存地址。可以使用目标设备的技术参考手册来确定这些地址。
- 使用Trace32的命令和脚本来修改pFlash内存的内容以产生ECC错误。你可以使用命令如poke或是写一个脚本以生成多位错误。
2) 编写测试程序:
- 编写一个测试程序来验证ECC错误的生成和处理。这个程序应该包含读取和写入pFlash内存的代码,以及对错误处理和纠正的测试。
- 使用Trace32工具加载和调试你的测试程序。可以使用Trace32的高级调试功能来单步执行程序并观察生成的ECC错误。
3) 监控寄存器:
- 为了确认pFlash内存在PFI2中正确生成了特定的ECC错误,你需要监控相关的寄存器。
- 在目标设备的技术参考手册中查找与ECC错误相关的寄存器。这些寄存器通常用于存储ECC校验码和错误相关的状态信息。
- 在Trace32工具中,使用寄存器窗口或命令来监视这些寄存器的值。在执行程序的过程中,你可以观察这些寄存器的更新情况,以确认ECC错误的生成和处理。
请注意,创建ECC错误和使用故障注入技术需要对目标设备和Trace32工具有一定的了解。在进行任何实验之前,请确保你已经详细阅读了相关的技术参考手册和Trace32工具的用户手册。使用故障注入技术时要小心,确保不会对目标设备造成损坏。
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