设定仿真条件,并把上偏光片和液晶盒厚度设置为变量并输入变量条件,最后执行结果分析。 结果分析 1.透过率随盒厚的变化 TN模式下不同波长透过率随液晶盒厚度d(um)的变化(常白模式opt.Axis:phi -135和常黑模式opt.Axis.phi -45) 可以看出透过率随着Δnd的增大而周期性变化,选择第一处极值(2.5um)为液晶盒厚分析光学特性。 2.透射率随电压的关系 TN模式下不同波长透过率随电压的变化(常白模式和常黑模式) 常黑模式的TN结构由于液晶材料的色散会存在一定暗态漏光(如图中绿光),常白模式暗态漏光极少且低灰阶色偏现象小,因此对比度相对较高,所以TN一般使用常白模式。 3.极坐标图 常白模式未施加电压下不同视角下的透过率的极坐标图常白模式不同视角下对比度的极坐标图
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TechwizLCD1D的TN模式光学分析
TN模式的电极分别位于上下基板上,由垂直电场控制液晶分子旋转。常白型TN模式上下偏光板吸收轴相互垂直,常黑型TN模式上下偏光板的吸收轴相互平行。我们在Techwiz LCD 1D 中对这两种TN模式的光学特性进行分析,并讨论液晶盒厚度的影响。 创建堆栈结构
设定仿真条件,并把上偏光片和液晶盒厚度设置为变量并输入变量条件,最后执行结果分析。 结果分析 1.透过率随盒厚的变化 TN模式下不同波长透过率随液晶盒厚度d(um)的变化(常白模式opt.Axis:phi -135和常黑模式opt.Axis.phi -45) 可以看出透过率随着Δnd的增大而周期性变化,选择第一处极值(2.5um)为液晶盒厚分析光学特性。 2.透射率随电压的关系 TN模式下不同波长透过率随电压的变化(常白模式和常黑模式) 常黑模式的TN结构由于液晶材料的色散会存在一定暗态漏光(如图中绿光),常白模式暗态漏光极少且低灰阶色偏现象小,因此对比度相对较高,所以TN一般使用常白模式。 3.极坐标图 常白模式未施加电压下不同视角下的透过率的极坐标图常白模式不同视角下对比度的极坐标图
设定仿真条件,并把上偏光片和液晶盒厚度设置为变量并输入变量条件,最后执行结果分析。 结果分析 1.透过率随盒厚的变化 TN模式下不同波长透过率随液晶盒厚度d(um)的变化(常白模式opt.Axis:phi -135和常黑模式opt.Axis.phi -45) 可以看出透过率随着Δnd的增大而周期性变化,选择第一处极值(2.5um)为液晶盒厚分析光学特性。 2.透射率随电压的关系 TN模式下不同波长透过率随电压的变化(常白模式和常黑模式) 常黑模式的TN结构由于液晶材料的色散会存在一定暗态漏光(如图中绿光),常白模式暗态漏光极少且低灰阶色偏现象小,因此对比度相对较高,所以TN一般使用常白模式。 3.极坐标图 常白模式未施加电压下不同视角下的透过率的极坐标图常白模式不同视角下对比度的极坐标图
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