【白皮书】采用28-nm FPGA切实降低SEU
相对于ASIC，采用FPGA 设计的系统有明显的优势，例如，快速工艺技术改进和设计创新等，支持在高可用性、高可靠性和安全关键系统中使用FPGA。 然而，技术进步也带来了其他影响，例如，对于以前可以忽略的软错误，现在却非常敏感。 由单事件干扰(SEU) 导致的这些软错误不是破坏性的，系统不需要停止工作就能够纠正软错误。 本白皮书介绍为Altera ®Stratix V ® FPGA 开发的增强SEU 降低技术怎样通过强大的技术路线来解决软错误系统难题。详见wp-01135-stxv-seu-mitigation_CN.pdf。
 我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| 【S32K3学习整理】使用 LPUART 的loopback 模式实现核间通讯被打赏￥28元 | |
| arduinounoq原生zephyr环境搭建被打赏￥31元 | |
| 树莓派3+Klipper，MPU6050共振补偿被打赏￥41元 | |
| GroveCreatorKit套件+摇杆测评被打赏￥18元 | |
| 设备功耗web监控界面(ESP32C5)被打赏￥28元 | |
| OrangePiZero2W系统被打赏￥33元 | |
| Linux环境下以模拟方式快速实现出入管理功能测试被打赏￥24元 | |
| 树莓派3+Klipper，老3D打印机满血升级被打赏￥33元 | |
| OK1126B-S开发板下串口屏及其应用被打赏￥21元 | |
| 低功耗超声波液位测距仪(ESP32S3)被打赏￥27元 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
